专利名称 一种光学系统及其畸变校正方法及系统
申请号/专利号 CN201810258291.2 专利权人(第一权利人) 长春理工大学
申请日 2018-03-27 授权日 2020-08-07
专利类别 授权发明 战略新兴产业分类 双五星
技术主题 红外图像|近红外|基于图像|光学系统|焦距|失真校正|可见光|光轴|材料科学|准直器
应用领域 图像增强|图像分析
意向价格 具体面议
专利概述 本发明公开了一种光学系统及其畸变校正方法及系统。所述畸变校正方法包括:获取平行光管产生平行光时的第一平行光管透镜焦距;根据所述第一平行光管透镜焦距确定可见光图像以及近红外图像;以入射光的光轴为Z轴,垂直于光轴的平面为XOY面,建立图像坐标系;获取网格板内的单位正方形的边长;所述网格板包括多个单位正方形;根据所述边长确定所述单位正方形对应的像素点;根据所述像素点以及所述图像坐标系确定坐标变换矩阵;根据所述可见光图像以及所述变换矩阵确定可见光无畸变图像;根据所述近红外图像以及所述变换矩阵确定近红外无畸变图像。采用本发明所提供的光学系统及其畸变校正方法及系统能够降低光学系统的测量误差。
图片资料 一种光学系统及其畸变校正方法及系统
合作方式 具体面议
联系人 戚梅宇 联系电话 13074363281