专利名称 一种低纹理环境下基于点线特征的视觉SLAM方法
申请号/专利号 CN202210241165.2 专利权人(第一权利人) 长春工业大学
申请日 2022-03-11 授权日 2024-11-01
专利类别 授权发明 战略新兴产业分类 新一代信息技术
技术主题 计算机图形|重投影误差|视觉|基于特征|投影|视觉方法|特征匹配|视觉技术
应用领域 图像增强|图像分析|内燃活塞发动机|字符和模式识别
意向价格 具体面议
专利概述 一种低纹理环境下基于点线特征的视觉SLAM方法,涉及计算机视觉技术领域。本发明在ORB‑SLAM2系统上进行扩展,提取图像中的点特征和线特征,在普通的线特征基础上筛选出建筑结构线特征,得到点特征和建筑结构线特征;利用点特征和建筑结构线特征进行特征匹配,使用RANSAC算法剔除误匹配对;根据相邻帧推导出的重投影误差模型估计相机位姿;顺次执行后端优化与回环检测线程,从而提高系统在低纹理场景中的稳定性和鲁棒性,最终实现面向低纹理环境下的基于点线特征的视觉SLAM方法。
图片资料 一种低纹理环境下基于点线特征的视觉SLAM方法
合作方式 具体面议
联系人 戚梅宇 联系电话 13074363281